여기에

NV-2400은 모든 표면의 형상을 가장 빠르게 측정할 수 있는 측정기이며, 나노시스템 고유의 특허인 백색광주사간섭계 WSI(White Light Interferometry) 및 알고리즘으로 개발된 제품입니다. X/Y 스테이지는 자동이며 Z축은 매뉴얼입니다. 이 제품은 특별히 연구소, 대학교, 또는 공정관리를 위해 제작되었습니다. 이 제품은 Stitching기능을 통해 대 영역(500㎟) 측정을 가능하게 해줍니다.

특허 받은 WSI/PSI 기술은 재질이 1%의 반사율만 있다면 측정 가능하며, 표면형상의 높이, 넓이, 폭, 거칠기(Ra, Rq, Rz, Rt, etc)등 여러 측정 항목들을 출력해 줍니다.

또한 WSI 기술은 높은 분해능(0.1nm )과 빠른 속도(2초)로 모든 표면을 측정 가능하게 합니다. 샘플을 훼손 하지 안고 비파괴로 0.1 nm 부터 10000 µm까지 측정하실 수 있으며 2/3D형상으로 측정 결과를 볼 수 있습니다. 뿐만 아니라 0.1% (1σ)의 세계 최고 수준의 반복능을 보장 합니다. 이 나노시스템의 기술은 PCB, display, engineering part, chemical material, optical parts, bio, R&D 등에 폭넓게 적용되고 있습니다.